INTER-CONTINENTAL MICROWAVE TF-3001-E

Il dispositivo di prova regolabile ICM Mainframe della serie TF-3000 offre una piattaforma di test altamente flessibile per misure a semiconduttore a microonde, come parametri S, figura del rumore, ecc. Entrambi i lanci RF possono essere regolati sull'asse yez per ospitare i DUT con offset e diverso spessore del substrato '.
Viene mantenuta la piena compatibilità con tutti i Midsection e i kit di calibrazione. Il concetto di avere un mainframe con midsection di tipo plug-in lo rende una soluzione molto adattabile e conveniente. Il de-embedding può essere fatto facilmente con gli standard di calibrazione TRL o TOSL disponibili.
Sono disponibili diverse sezioni medie per le misurazioni dei chip FET, le misurazioni dei chip Bipolar, le misurazioni dei chip MMIC e i transistor Packaged (dispositivi a basso rumore e potenza). Eccellenti caratteristiche RF e ripetibilità della misurazione sono progettate nell'apparecchio di base. I gruppi di transizione del connettore sostituibili consentono l'uso di connettori APC-7, APC-3.5, SuperSMA, K e 2.4mm da utilizzare con lo stesso mainframe (interfacce maschio e femmina disponibili).